本部分规定了微电子技术用贵金属浆料中固体含量的测试方法。
本部分适用于各种烧结型和固化型微电子技术用贵金属浆料固体含量的测定。 本部分代替ＧＢ／Ｔ１７４７３．１—１９９８《厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定》。
本部分与ＧＢ／Ｔ１７４７３．１—１９９８相比，主要有如下变动：
———将原标准名称修改为微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定；
———删除了引用文件ＧＢ／Ｔ２４２１—１９８９；
———本部分增加了聚合物低温固化型浆料的固体含量测定内容；
———对于聚合物低温固化浆料，根据浆料使用温度的不同来确定检测固体含量的温度；
———浆料平行取样由两份增加为三份；
———删除了中温烧成浆料的内容，将高温烧成浆料改为烧结型浆料；
———试料相互之间测试值之差不大于平均值的１％测定结果有效。
下列文件中的条款通过本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。
ＧＢ／Ｔ８１７０ 数值修约规则
