标准编号:	GB/T 18907-2013
中文名称:	微束分析 分析电子显微术 透射电镜选区电子衍射分析方法
英文名称:	Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Selected-area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope
中标分类:	G04基础标准与通用方法
行业分类:	国家标准(GB)
ICS分类:	71.040.50物理化学分析方
发布机构:	中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:	2013-07-19
实施日期:	2014-03-01
标准状态:	现行
替代旧标准:	GB/T18907-2002 透射电子显微镜选区电子衍射分析方法
翻译语言:	英文
文件格式:	PDF
中文字符数:	32000 字
翻译价格(元):	1920 元
交付时间:	付款后 1-5工作日

本标准规定了用透射电子显微镜(TEM)对薄晶体试样的微米和亚微米尺寸区域进行选区电子衍射分析的方法。被测试样可以从各种金属或非金属材料的薄切片获得,也可以采用细微的粉末或萃取复型试样。应用本方法可分析的最小试样选区直径取决于显微镜物镜的球差系数,对于现代TEM,试样的最小选区直径一般可达到0.5μm。
当被分析试样区的直径小于0.5μm 时仍然可以参照本标准的分析方法,但是由于球差的影响,衍
射谱上的部分信息有可能来源于由选区光阑限定的区域之外,在这种情况下,如条件允许,最好采用微
(纳)衍射或者会聚束电子衍射方法。
选区电子衍射方法的成功应用取决于对所获得的衍射谱指数标定正确与否,而不论试样的哪个晶带轴平行于入射电子束,因而,这样的分析往往需要借助试样的倾转和旋转装置。
本标准适用于从晶体试样上获取SAED 谱、标定衍射谱的指数以及校准电镜的衍射常数。

前言 Ⅲ
引言 Ⅳ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语、符号和定义 1
4 原理 2
5 仪器设备 6
6 试样 6
7 标准物质 6
8 试验方法 7
9 SAED谱的测量和标定 9
10 180°不确定性 11
11 不确定度评估 11
附录A (资料性附录) 纯金与纯铝的晶面间距表 13
附录B(资料性附录) 结构为BCC、FCC和HCP的单晶体斑点衍射谱 14
参考文献 24