标准编号:	GB/T 28893-2012
中文名称:	表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 测定峰强度的方法和报告结果所需的信息
英文名称:	Surface Chemical Analysis - Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy - Methods used to determine peak intensities and information required when reporting results
中标分类:	G04基础标准与通用方法
ICS分类:	71.040.40化学分析
发布机构:	中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:	2012-11-05
实施日期:	2013-06-01
标准状态:	现行
翻译语言:	英文
文件格式:	PDF
中文字符数:	16000 字
翻译价格(元):	960 元
交付时间:	付款后 1-3工作日

本标准规定了俄歇电子能谱和X射线光电子能谱的峰强度测量的分析结果报告中所要求的必要信息。提供了峰强度测量方法和所得峰面积的不确定度信息。

前言 Ⅰ
引言 Ⅱ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
4 符号和缩略语 1
5 直接谱的峰强度测定方法 1
5.1 概述 1
5.2 非弹性本底的选择和扣除 2
5.3 峰强度的测量 3
5.3.1 峰高度的测量 3
5.3.2 峰面积的测量 3
5.4 用计算机软件测量峰强度 4
5.5 重叠峰谱图的峰强度测量 4
5.6 峰面积测量的不确定度 4
6 俄歇电子微分谱的峰强度测定方法 5
6.1 概要 5
6.2 俄歇电子微分谱强度的测量 5
6.3 俄歇电子微分谱强度测量的不确定度 6
7 测量峰强度方法的报告 6
7.1 一般要求 6
7.2 测定直接谱峰强度的方法 6
7.2.1 单峰的强度测量 6
7.2.2 拟合峰的强度测量 6
7.3 获得和测定俄歇电子微分谱峰强度的方法 7
7.3.1 获得微分谱的方法 7
7.3.2 测定峰强度的方法 7
附录A (资料性附录) 仪器对测量强度的影响 8
参考文献 9