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标准名称 |
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标准状态 |
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| GB/T 35008-2018 |
串行NOR型快闪存储器接口规范 |
2160 元 |
付款后
1-5天
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现行
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| GB/T 14028-2018 |
半导体集成电路 模拟开关测试方法 |
1680 元 |
付款后
1-3天
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现行
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| GB/T 36474-2018 |
半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法 |
1190 元 |
付款后
1天
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现行
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| SJ 20464/1-1994 |
BZS-100-1型铝波导正交模耦合器 |
600 元 |
付款后
1-3天
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现行
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| GB 7511-1987 |
电子器件详细规范 半导体集成电路CE10131型ECL双主从D触发器(可供认证用) |
1080 元 |
付款后
1-3天
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已作废
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| GB/T 35003-2018 |
非易失性存储器耐久和数据保持试验方法 |
720 元 |
付款后
1-3天
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现行
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| GB/T 17574.10-2003 |
半导体器件 集成电路 第2-10部分：数字集成电路 集成电路动态读/写存储器 空白详细规范 |
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付款后
1-3天
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现行
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| GB/T 4377-2018 |
半导体集成电路 电压调整器测试方法 |
1680 元 |
付款后
1-3天
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现行
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| GB 7090-1986 |
电子器件详细规范 半导体集成电路CD7193CP色处理电路(可供认证用) |
1080 元 |
付款后
1-3天
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已作废
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| GB 7510-1987 |
电子器件详细规范 半导体集成电路CDA7520型10位数/模转换器(可供认证用) |
1020 元 |
付款后
1-3天
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已作废
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| SJ 20158-1992 |
半导体集成电路JT54S151、JT54S153和JT54S157型S—TTL 数据选择器详细规范 |
1440 元 |
付款后
1天
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现行
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| GB/T 3432.1-1989 |
半导体集成电路TTL电路系列和品种 54/74系列的品种 |
6600 元 |
付款后
1-10天
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已作废
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| GB/T 15878-2015 |
半导体集成电路 小外形封装引线框架规范 |
960 元 |
付款后
1-3天
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现行
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| GB 7006-1986 |
电子器件详细规范 半导体集成电路CT1002型TTL四2输入或或非门(可供认证用) |
1020 元 |
付款后
1-3天
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已作废
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| GB 6794-1986 |
半导体集成接口电路磁芯存储器驱动器测试方法的基本原理 |
1020 元 |
付款后
1-3天
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已作废
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| GB 7081-1986 |
电子器件详细规范 半导体集成电路CH2008型HTL双4输入与非门(可供认证用) |
900 元 |
付款后
1-3天
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已作废
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| GB/T 35009-2018 |
串行NAND型快闪存储器接口规范 |
1920 元 |
付款后
1-5天
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现行
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| GB 7009-1986 |
电子器件详细规范 半导体集成电路CT1010型TTL三3输入与非门(可供认证用) |
1020 元 |
付款后
1-3天
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已作废
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| GB/T 33657-2017 |
纳米技术 晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范 |
960 元 |
付款后
1-3天
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现行
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| SJ/Z 11361-2006 |
集成电路IP核保护大纲 |
600 元 |
付款后
1-3天
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现行
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