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| GB/T 20726-2006 |
半导体探测器X射线能谱仪通则 |
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| GB/T 15245-2002 |
稀土氧化物的电子探针定量分析方法 |
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| GB/T 17723-1999 |
黄金制品镀层成分的 X 射线能谱测量方法 |
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| JB/T 6780-1993 |
原子吸收分光光度计 |
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| ZB N 33010-1989 |
激光喇曼分光光度计 |
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| GB/T 26533-2011 |
俄歇电子能谱分析方法通则 |
960 元 |
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| GB/T 6360-1995 |
激光功率能量测试仪器规范 |
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| ZB N 33009-1989 |
分光光度计系列及其基本参数 |
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| GB/T 15244-2002 |
玻璃的电子探针定量分析方法 |
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| ZB N 33002.1-1988 |
金相显微镜 系列 |
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| GB/T 18907-2002 |
透射电子显微镜选区电子衍射分析方法 |
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| GB/T 17360-2020 |
微束分析 钢中低含量硅、锰的电子探针定量分析方法 |
1080 元 |
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即将实施
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| JB/T 5482-2004 |
X射线晶体定向仪 技术条件 |
420 元 |
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| ZB Y 216-1984 |
光谱仪器用狭缝 |
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| GB 7247-1995 |
激光产品的辐射安全、设备分类、要求和用户指南 |
3360 元 |
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| JB/T 5590-1991 |
光谱仪器用滤光片 |
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| GB/T 15617-2002 |
硅酸盐矿物的电子探针定量分析方法 |
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| DZ 0029-1992 |
HYX-3型微机X射线荧光仪 |
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| GB 7667-2003 |
电子显微镜X射线泄漏剂量 |
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| GB/T 16594-1996 |
微米级长度的扫描电镜测量方法 |
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