GB/T17626的本部分给出了利用各种 TEM 波导进行电子和电气设备发射和抗扰度试验的方法。
TEM 波导有开放式(例如,带状线和电磁脉冲(EMP)模拟器)和封闭式(例如,TEM 室),还可以进一步分为单端口、双端口和多端口波导。TEM 波导的适用频率范围取决于具体的试验需求和 TEM 波导的具体类型。
本部分的目的是给出:
———TEM 波导的性能,包括典型的频率范围和对 EUT 尺寸的限制;
———用于电磁兼容(EMC)试验的 TEM 波导的确认方法;
———EUT(即 EUT 壳体和连接电缆)的定义;
———在 TEM 波导中进行辐射发射试验的试验布置、步骤和要求;
———在 TEM 波导中进行辐射抗扰度试验的试验布置、步骤和要求。
注:本部分规定的试验方法用于测量所关心设备的电磁辐射抗扰度和辐射发射。电磁辐射的模拟和测量结果对于
定量确定最终安装使用状态下的电磁效应是不够准确的,规定试验方法的主要目的是保证定性分析电磁效应使用的不同试验设备所得试验结果的重复性。
本部分的目的不是规定适用于任意特定产品或系统的试验方法,而是为所有感兴趣的产品委员会提供通用的基础性参考。对于辐射发射试验,产品委员会应参考国际无线电干扰特别委员会(CISPR)标准1)选择发射限值和试验方法。对于辐射抗扰度试验,由产品委员会负责对其管辖范围内的设备选择合适的试验方法和抗扰度限值。本部分描述的试验方法独立于 GB/T17626.32)。
前言 Ⅲ
1 范围和目的 1
2 规范性引用文件 1
3 术语、定义和缩略语 2
3.1 术语和定义 2
3.2 缩略语 4
4 概述 5
5 TEM 波导要求 5
5.1 概述 5
5.2 使用 TEM 波导的通用要求 5
5.2.1 TEM 模的验证 5
5.2.2 试验区域和 EUT 最大尺寸 6
5.2.3 可用试验区域的确认 6
5.3 对某些类型 TEM 波导的特定要求和建议 8
5.3.1 开放式 TEM 波导的布置 8
5.3.2 双端口 TEM 波导 TEM 模的替代验证方法 8
6 EUT 类型 9
6.1 概述 9
6.2 小 EUT 9
6.3 大 EUT 9
7 实验室试验环境 9
7.1 概述 9
7.2 气候环境 9
7.3 电磁环境 9
8 试验结果的评价与报告 9
附录 A (规范性附录) TEM 波导中的发射试验 11
附录 B (规范性附录) TEM 波导中的抗扰度试验 26
附录 C (规范性附录) TEM 波导中的 HEMP瞬态试验 31
附录 D (资料性附录) TEM 波导的特性 36
附录 E (资料性附录) TEM 波导中电场探头的校准方法 42
相关标准和参考文献 51
图 A.1 引出电缆被引至位于试验区域底部和正交角上的角落 19
图 A.2 基本的正交轴定位装置或试验支撑装置 20
图 A.3 辐射发射试验的3个正交轴旋转方位 21
图 A.4 典型 EUT 的12面/轴试验方位 21
图 A.5 OATS示意图 22
图 A.6 双端口 TEM 室(对称芯板) 22
图 A.7 单端口 TEM 室(非对称芯板) 23
图 A.8 带状线(双导体) 24
图 A.9 带状线(四导体,平衡馈电) 25
图 B.1 单极化方向的 TEM 波导的试验布置 29
图 B.2 TEM 波导中场均匀区确认的位置点 30
图 C.1 100kHz到300MHz的频谱幅值 35
图 D.1 简单波导(不存在 TEM 波) 40
图 D.2 传输 TEM 模的波导示例 40
图 D.3 极化矢量 40
图 D.4 传输 TEM 波的传输线 41
图 D.5 单端口和双端口 TEM 波导 41
图 E.1 校准区域的确认测量点示例 43
图 E.2 探头扰乱确认布置 43
图 E.3 到达场强发射设备的净功率测量布置 46
图 E.4 电场探头校准布置举例 47
图 E.5 另一种电场探头校准方法的校准布置 49
图 E.6 天线和测量仪器的等效电路 49
表 1 正态分布下扩展不确定度的 K 值 8
表 B.1 场均匀区确认的测量位置点 27
表 B.2 试验等级 28
表 C.1 现行标准定义的辐射抗扰度试验等级 35
表 E.1 校准频率点 44
表 E.2 校准场强大小 44
