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YS/T 985-2014 硅抛光回收片 960 元 付款后 1-3天 现行
GB/T 24580-2009 重掺n型硅衬底中硼沾污的二次离子质谱检测方法 720 元 付款后 1-3天 现行
GB/T 14139-2009 硅外延片 720 元 付款后 1-3天 已作废
YS/T 23-1992 硅外延层厚度测定 堆垛层错尺寸法 180 元 付款后 1-3天 已作废
GB/T 24578-2009 硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法 960 元 付款后 1-3天 已作废
GB/T 24576-2009 高分辩率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中Al成分的试验方法 720 元 付款后 1-3天 现行
GB/T 14863-2013 用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的方法 960 元 付款后 1-3天
GB/T 25076-2010 太阳电池用硅单晶 720 元 付款后 1-3天 已作废
GB/T 16596-2019 确定晶片坐标系规范 480 元 付款后 1-3天 现行
GB/T 14146-2009 硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法 720 元 付款后 1-3天 现行
GB/T 26069-2010 硅退火片规范 720 元 付款后 1-3天 现行
GB/T 1551-2009 硅单晶电阻率测定方法 1440 元 付款后 1-3天 现行
GB/T 14844-1993 半导体材料牌号表示方法 付款后 1-3天 已作废 请联系我们查询售价，邮箱:bz@bzfyw.com
GB/T 6616-2009 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法 720 元 付款后 1-3天 现行
GB/T 1553-2009 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法 960 元 付款后 1-3天 现行
GB/T 1554-2009 硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法 1440 元 付款后 1-3天 现行
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