标准翻译网 中标分类 行业分类 ICS分类 最新标准 新闻动态
登录注册
您的位置: 标准查询 现行 即将实施 被替代 即将被替代 已作废 即将作废
标准编号 标准名称 翻译价格(元) 交付时间 标准状态 加入购物车
GB/T 24577-2009 热解吸气相色谱法测定硅片表面的有机污染物 960 元 付款后 1-3天 现行
GB/T 6621-2009 硅片表面平整度测试方法 480 元 付款后 1-3天 现行
GB/T 4058-2009 硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法 1200 元 付款后 1-3天 现行
GB/T 29505-2013 硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法 1920 元 付款后 1-5天 现行
GB/T 26068-2010 硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法 1680 元 付款后 1-3天 已作废
GB/T 25075-2010 太阳能电池用砷化镓单晶 720 元 付款后 1-3天 现行
GB/T 1558-2009 硅中代位碳原子含量 红外吸收测量方法 720 元 付款后 1-3天 现行
GB/T 14844-2018 半导体材料牌号表示方法 付款后 1-3天 现行 请联系我们查询售价，邮箱:bz@bzfyw.com
GB/T 16595-2019 晶片通用网格规范 720 元 付款后 1-3天 现行
GB/T 24575-2009 硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次离子质谱检测方法 720 元 付款后 1-3天 现行
GB/T 14847-2010 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法 720 元 付款后 1-3天 现行
GB/T 6619-2009 硅片弯曲度测试方法 720 元 付款后 1-3天 现行
YS/T 838-2012 碲化镉 960 元 付款后 1-3天 现行
GB/T 24574-2009 硅单晶中Ⅲ-Ⅴ族杂质的光致发光测试方法 960 元 付款后 1-3天 现行
YS/T 679-2008 非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法 960 元 付款后 1-3天 已作废
GB/T 30453-2013 硅材料原生缺陷图谱 5280 元 付款后 1-10天 现行
GB/T 6617-2009 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法 720 元 付款后 1-3天 现行
GB/T 1555-2009 半导体单晶晶向测定方法 720 元 付款后 1-3天 现行
GB/T 14141-2009 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法 720 元 付款后 1-3天 现行
GB/T 13388-2009 硅片参考面结晶学取向X射线测试方法 720 元 付款后 1-3天 现行
微信联系客服
版权所有： 北京悦尔信息技术有限公司 2008-2020
全国免费电话：400 001 5431 电话：010-8572 5110 传真：010-8581 9515
Email: bz@bzfyw.com（请注明“咨询”、“购买”等字样） 点击这里给我发消息QQ: 1780087563